泰勒DUO便携式粗糙度测量仪
泰勒DUO粗糙度仪SURTRONIC DUO是英国泰勒公司新型粗糙度仪，可测量Ra，Rz两种参数。
DUO便携式粗糙度测量仪具有的红外接口可在距离被测物1米处进行测量
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泰勒DUO便携式粗糙度测量仪的技术参数：
| 测量范围 | 200um |
| 误差 | 0.8mm ±15% |
| 分辨 | Ra=0.01 um Rz=0.1 um |
| 精度 | Ra:±5%读数或±0.1um |
| Rz | ±5%读数或±um |
| 针尖 | 金钢石，半径5um |
| 显示单位 | um |
| 参数 | DRa0.1um ～ 400um |
| Rz | 0.1um ～ 199um |
| 滤波器 | ISO 2CR |
| 尺寸 | 125×80×38mm |
| 重量 | 200g |