粒子计数器

TA610\TA620\TA630\TA631粗糙度仪测量(微调)平台

TA610\TA620\TA630\TA631粗糙度仪测量(微调)平台

  TA610测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。

  TA620测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。

  TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。

  TA631微调平台,X—Y平面转角。

      TA630、TA631都用来较小幅度的,粗确调整被测量工件的位置,提高测量精度。


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